光計測システム
光計測システムは光の波動性を利用して，物体の長さ，形状，表面粗さ，屈折率等を光の波長程度の精度で測定するシステムです．本装置では，ホログラフィ技術を利用することにより，測定対象の時間的な変化を測定することが可能となりました．さらに，多波長のレーザ光を利用し，光散乱による異なる光波間の相関も測定できます．
性能及び仕様
光学系
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ホログラフィ干渉計，マッハツェンダ干渉計，シュリーレン光学系，光学定盤（中央精機株式会社製）
光源
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アルゴンイオンレーザ（ナショナルレーザ製）総合出力160mW
ヘリウムネオンレーザ（メレスグリオ製）出力10mW
特徴
光波干渉の原理を利用するため，サブミクロン程度の形状が測定できます．
ホログラフィ技術を用いることにより，ピント合わせ無しで物体の３次元形状の変化を測定でき，時分割干渉が可能となります．
アルゴンイオンレーザとヘリウムネオンレーザを併用することにより，複数の波長に対する特性が観察できます．
用途
ホログラフィ干渉計：変位・変形・振動の状態の観察
例：光学部品等の精密部品の検査
マッハツェンダ干渉計：透明な物体の屈折率分布の定量的測定
例：流れ場の密度分布，温度，流速等の測定
シュリーレン光学系：透明な物体による屈折や散乱の可視化
例：流体の密度勾配（流れ）の可視化
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