Ｘ線回折システム
あらゆる，結晶物質は，その物質固有の結晶構造を持っています．Ｘ線回析法とは，物質にＸ線を照射し，Ｘ線の回析現象を利用することで，物質の定性分析（どんな物質が含まれているか）及び，結晶構造や結晶子サイズ，物質内部の応力等の情報が評価できる測定方法です．
性能及び仕様
製造所
：
日本電子株式会社
型式
：
JXDX3531
仕様
：
容量・・・・連続定格3.0kW
制御・・・・インバータ方式
電圧電流設定範囲・・・・電圧20kV〜60kV, 電流2.5mA〜80mA
特徴
EWSを用い，測定条件の設定及び，測定の自動化が可能です．
X線の漏洩に対し，二重の安全装置が装備されているため，通常動作では漏洩の心配はありません．
（仮に漏洩したとしても，人体の影響はレントゲン写真撮影よりも微小です）
資料のアタッチメントを交換するだけで，粉体，薄膜，個体材料の評価が可能です．
バックグラウンド（ノイズ）が大きな試料でも，モノクロメータ等の使用で，ノイズを低減し評価の精度が向上します．
評価項目
定性分析：物質の同定（物質に含まれている元素の評価）
定量分析：試料に含有される物質の簡単な量の評価
結晶性の評価
結晶子サイズ及び結晶の歪み評価
格子定数の評価
物質の応力評価（薄膜及び固体）
残量オーステナイトの評価
用途
各種新素材や，機能材料の定性評価及び定量評価
集積回路上で使われる各種薄膜や，磁性体膜，メッキ膜等の構造分析や，結晶化，配向性の評価
各種金属の接合面及び，破断面の残留応力の評価
[もどる]
